参数查看，快速清晰。
大胆发现**如此简单。 4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外，嵌入式测量专业知识（业界**）可提供测试指南并让您对结果充满信心。
特点
内置英语，中文，日语和韩语版本的测量视频
使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试
自动实时参数提取、数据绘图、算数函数
测量、 切换、 重复。
4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。
特点
无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
用户可配置低电流功能
个性化输出通道名称
查看实时测试状态
稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块，您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择，可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，Keithley 可确保您获得*准确的低电流测量，而停机时间很少甚至没有。
使用 4201-SMU 和 4211-SMU，通过高测试连接电容进行稳定的低电流测量
特点
不必将仪器送回工厂即可增加 SMU
进行 飞安测量
多达 9 个 SMU 通道
针对长电缆或大卡盘进行了优化
带分析探测器和低温控制器的集成解决方案。
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。
特点
“点击”测试定序
“手动”探测器模式测试探测器功能
假探测器模式无需移除命令即可实现调试
降低成本并保护您的投资
吉时利保障计划以按需服务事件的一小部分成本提供快速、高质量的服务。 只需点击一下或拨打一个电话即可获得维修服务，在此过程中，无需报价或填写采购单，也不会有审批延误。
了解详情
| 产品技术资料 | 型号 | 描述 |
|---|---|---|
| 查看产品技术资料 | 4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 |
210V/100mA，0.1 fA 分辨率 用于两端器件和三端器件、MOSFET、CMOS 检定 4200A-SCS-PK1 套件包括：
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| 查看产品技术资料 | 4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件 |
210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 用于高 κ 电介质、深度亚微米 CMOS 检定 4200A-SCS-PK2 套件包括：
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| 查看产品技术资料 | 4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 |
210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 用于功率器件、高 κ 电介质、深度亚微米 CMOS 检定 4200A-SCS-PK3 套件包括：
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| 查看产品技术资料 | 4200-BTI-A *快 NBTI/PBTI 套件 |
用于使用**硅 CMOS 技术进行的复杂 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 套件包括：
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