各种器件的I-V功能测试和特征分析,包括:
分立和无源元件
– 两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金属 氧化物可变电阻(MOV)、二极管、齐纳二极 管、电容、热敏电阻
– 三抽头器件——小信号双极结型晶体管(BJT)场效应晶体管(FET),等等
简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感 器、转换器、稳压器
集成器件——小规模集成(SSI)和大规模集成(LSI) – 模拟IC
– 射频集成电路(RFIC)
– 专用集成电路(ASIC)
– 片上系统(SOC)器件
光电器件,例如发光二极管(LED)、激光二极管高亮度LED(HBLED)、垂直腔面发射激光器 (VCSEL)、显示器
圆片级可靠性
– NBTI、TDDB、HCI、电迁移
太阳能电池
电池
更多…
2604B/2614B型仪表的背板
(单通道2601B, 2611B, 2635B没有给出)。
2636B型仪表的背板
在第一和第三象限,2600B系列仪器用作信号源,向负载提供 电源。在第二和第四象限,2600B系列仪器用作信号宿,内部 消耗功率。
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